ZYGO CS1115-801-346 基于光学干涉原理高精度测量仪器

　　ZYGO CS1115-801-346 是一款基于光学干涉原理的高精度测量仪器，能够实现纳米甚至亚纳米级别的表面形貌和光学波阵面的测量。CS1115-801-346设备广泛应用于半导体、光学制造、通信、医疗、航天、汽车制造和消费电子等多个领域。

　　技术原理：CS1115-801-346设备采用先进的光学干涉技术，通过高精度的干涉测量方法，能够对光学元件的表面进行非接触式测量，从而提供高精度的表面形貌数据。这种技术在光学元件的加工、检测和质量控制中具有重要作用。

　　性能特点：

　　高精度：能够实现纳米级的表面形貌测量，满足高精度光学元件的检测需求。

　　非接触式测量：无需物理接触，避免对被测样品造成损伤。

　　多功能性：适用于多种光学元件的检测，包括球面、非球面、柱面等。

　　稳定性：设备具有良好的热稳定性和动态稳定性，能够在不同环境条件下保持高精度测量。

产品类型：工业激光器，属于 ZMI™ 系列。

　　技术基础：基于氦氖技术，具有高稳定性和高精度。

　　输出功率：提供 200uW 或 400uW 的输出功率。

　　波长：632.8 nm。

　　应用：适用于高精度的位置计量，与 ZMI™240X 和 4X04 系列测量板卡结合使用。

　　特点：双频输出，适用于多种测量轴的高精度测量 。

部分型号参考：

ZYGO CS1115-801-346 基于光学干涉原理高精度测量仪器

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