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Agilent 5517DL 5517系列双频氦氖激光头

♻️型号:Agilent 5517DL

✳️产品特征:

  • 双频 He-Ne 塞曼激光设计

  • 支持最高 1.2 m/s 高速测量

  • 带通风壳体结构

  • 标准光束直径 6 mm

  • 线性偏振输出

  • 二类激光安全等级

⏰交货货期:3周

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产品介绍

Agilent 5517DL 5517系列双频氦氖激光头

5517DL属于Agilent 5517 系列双频氦氖激光头,是激光干涉测量系统的核心光源单元。5517DL采用塞曼分裂技术输出两路频差稳定的偏振激光光束,专门适配高速运动平台的高精度位移干涉测量系统,广泛搭载于半导体光刻设备、面板制造设备、高精度数控机床、坐标检测装置,常与干涉镜、反射镜、信号接收处理卡配套组建纳米级定位测控系统。


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主要作用

  1. 提供稳定双频激光光源:输出 633nm 高度相干双频激光,作为激光干涉仪测量基准光束;
  2. 生成参考频差信号:产生稳定频差,接收器通过参考光与测量光频差解算出位移、速度信息;
  3. 高速位移测量支撑:具备更高允许测量速度,满足光刻平台、直线电机高速往复定位场景;
  4. 长距离高精度测量:激光相干性优良,支持多轴、长行程纳米级位置实时监测;
  5. 设备闭环定位基准:为运动控制系统提供绝对位置反馈,实现平台精准定位与轨迹修正;
  6. 多轴系统扩展:光束可通过分光组件分出多路光路,实现单台激光头驱动多轴干涉测量;
  7. 波长基准溯源:具备优秀波长长期稳定性,保障整套测量系统精度一致性。

Agilent 5517DL 5517系列双频氦氖激光头

参数规格(仅供参考)

ItemSpecification
Part Number5517DL
Product TypeDual-Frequency He-Ne Laser Head
Laser MediumHelium-Neon (He-Ne)
Nominal Wavelength632.991354 nm (vacuum)
Frequency Difference≥ 4.4 MHz; Option 300: 5 MHz
Max Measuring Velocity1.2 m/s (with linear interferometer)
Standard Beam Diameter6 mm; Option 009: 9 mm
Beam Height80.8 ± 1.0 mm
Min Output Optical Power180 µW (120 µW after 3 years)
Max Output Optical Power1 mW
PolarizationLinear Polarized
Warm-up Time45 min (with forced ventilation)
Power Input+15 VDC ±0.3 V, max 3.0 A; -15 VDC ±0.3 V, max 0.3 A
Weight3.2 kg
MTBF>50000 hours typical
Wavelength Stability±2 ppb (1 hour), ±20 ppb (lifetime)
Laser Safety ClassClass 2
Operating Temperature10 ℃ ~ 40 ℃
ApplicationLaser Interferometer, Lithography, Flat Panel Equipment, Precision Motion Metrology
Successor BrandKeysight (Agilent former)
Protection ClassIP20 (equipment cabinet installation)

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产品特征

  1. 双频 He-Ne 塞曼激光设计,频差稳定,实现多普勒干涉位移测量,可同时测量位置与运动速度;
  2. 支持最高 1.2 m/s 高速测量,相比基础型号适合高速直线运动平台;
  3. 带通风壳体结构,可外接强制风冷,改善密闭机箱工况下温控能力,延长使用寿命;
  4. 真空波长稳定性优异,短期、长期漂移量极小,保障微米 / 纳米级别测量精度;
  5. 标准光束直径 6 mm,可选 9 mm 大光束版本,适配大角度摆动光学干涉组件;
  6. 线性偏振输出,光束指向稳定性高,降低温度漂移带来光路偏移误差;
  7. 平均无故障时长优异,满足半导体产线 7×24 小时不间断运行需求;
  8. 标准化机械安装接口,兼容 HP/Agilent 整套干涉光学组件,便于旧设备备件替换;
  9. 二类激光安全等级,配套工业测量设备安全规范。

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